问题描述：
按照工程需求，需要设计一个光脉冲捕获的前端。我采用的方法是利用OPA857+THS4521进行对光信号放大，然后用THS4521差分输出的一路送比较器。光传感器是光电二极管SHF213。光脉冲发射端是用的SHF4550。光脉冲发射端典型脉冲是2us的脉宽。OPA857捕获光脉冲，想做到200ns的上升／下降沿。
问题现象：
设计了电路板，在第一次电路板中，成功测试到了满足要求捕获到的光脉冲信号。但是后来这个电路板不小心烧坏，同一批制作的电路板，后来再也不能复现第一次测试结果。后面测试OPA857上升／下降速度特别慢。完全没体现出其开恢复的特性。请教，前后测试波形下图所示。请问这个现象是什么问题？我可能该如何去解决这个问题？
第一次测试，上升沿基本满要求200-300ns。
第二次，同样电路板，第二次焊接的。测试完全不满足要求，上升时间都5us以上了。PS：第二次测试，如果光发射脉冲任然是2us脉宽，检测端完全不能进入稳定状态，波形是三角波样子，所以加宽了脉宽，看看上升时间到底是多少。（两次波形输出，都是OPA857的OUT端输出）
