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使用TINA-TI v9仿真多层贴片瓷片电容(MLCC)的插入损耗特性 Part I

Other Parts Discussed in Thread: TINA-TI

在实际应用当中,关于退耦电容的使用,我们通常遵循一些经典原则,甚至很多参考设计也是遵循这样的原则:例如,0.1uF+10uF,退耦电容即可能接近引脚放置,使用尽可能短的接地线。


然而,随着实际应用复杂度的提升,这些经典原则往往并不适用。我们常常碰到这样的问题:当我们发现IC电源噪声过大、模拟IC对电磁辐射敏感等系统级问题时候,我们应该如何使用退耦电容,100pF?0.1uF?10uF?

我们知道,实际电容器由 ESR ESL EPR 和 C 组成。由于有C、L,那么则会有一个谐振点。在谐振点后,电容随着频率增大,逐渐表现为电感特性:。当电容表现为电感特性的时候,在电路中即失去了旁路高频噪声的作用。因此,合理的设计应该针对系统噪声的频率成分来选择旁路电容。

很多电容器厂商都会提供MLCC的阻抗-频率曲线,但这并不是MLCC安装到电路板上后最终的谐振点。使用TINA-TI,我们可以非常容易获得MLCC安装到电路板上后的插入损耗特性:

model.TSC