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BQ30Z55 项目MOS管烧坏

帮看看数据,客户退出来2个电池,导出来的GG数据,实际拆解显示MOS管烧坏。

从1#GG文件看 充电电流有点大,是否是烧坏MOS的原因??

2#电流正常,但是温度显示异常。

请帮看看,有哪些原因??谢谢!

不良电池GG文件和图片.zip
  • 1,你的选用MOS 是否能承受 最大充放电电流,我看你设置的是8A3S,10A3S,前端15A2S。容量才6300mah,充电电流肯定不大。肯定是放电造成的,至于是过流还是短路,你得检测一下你的延时对不对。

    2,你的2#温度不正常,我没看懂。GG文件只能记录截止到当前,电池的Lifetimes一些最高跟最低值,看不出你电池当前是什么状态。

  • Max Temp Cell = 49
    Min Temp Cell = 17
    Max Delta Cell Temp = 127
    Max Temp Int Sensor = 69
    Min Temp Int Sensor = 9
    Max Temp Fet = -128

    异常的温度更像是NTC断开了。


    Max Temp Int Sensor = 69, 芯片能检测的温度有69度,如果没有使能cell balancing, 这应该是充放电时MOS产生的热量。 最好能够实际做下实现看正常充放电是否MOS的温升很高。

  • Zeng 工,你好!我选择的MOS是AOS的AON7422E,满足客户持续充电4A,放电6A应该没问题。我设置的过流是不是有点大?8A/10A。

    这个前端15A2S是哪个参数看的?我这个30Z55还才开始用。

    1、今天我有模拟MOS鼓胀的状态,将MOS弄成虚焊,差不多就是接触阻抗比较大,测试DSG脚到低大概是10V-12V,正常是20V左右。

    当带载1A放电,MOS管马上温升很快,30秒不大直接就鼓胀烧掉了。这个倒是模拟出来差不多,但是不知道lifetimes那充电8A是怎么回事。

    2、2#电池那显示127度,应该是异常了吧?但是从SBS里显示为正常温度。

  • Wang工,NTC没有断开,从SBS显示是正常的。CB也没有打开的,应该就是MOS积累的热量而导致鼓胀燃烧了。不知道怎么会累积的热量。

  • 1,我没用过30Z55,我把你的[OLD(Protections)] Threshold = 02 Delay = 0F  这个0F参数看错成电流了,其实是延时。  像你说的那样,模拟MOS虚焊,让栅极无法得到充分的启动电压,MOS就无法充分导通,很小的电流就会烧掉,这样很简单。也可以跟客户解释。 但是要摸清真正的是不是这样原因,建议你自己测试同样程序的电池,AFE的过流跟短路保护是不是真的通过。  

    问一下客户的最大充放电是多大,是不是刚好介于过流保护跟AFE前端过流之间,而且电流又非常大,普通过流保护的延时是S级别的,如果电流太大,1S都可以干掉MOS。 我没看过这颗料的数据手册,不知道AFE保护值是 怎么设置的,[OLD(Protections)] Threshold = 02 这里的02绝对不是2A,你看看数据手册是不是按照电压设置的。 还有AFE 短路保护值跟延时是多大,适不适合你的电池放电保护值。

    2,你的2# 温度记录了最大的127 ℃, 首先目前的温度再高也不可能的。 直接把NTC短路应该也不会的。 我见的最多的,也是IC坏掉,时好时坏,造成这种现象。 你可以试试把lifetime 温度全部恢复到默认值,满充再满放,如果在放电过程中又跑到127°,那就是IC坏掉了

  • 这个原因是什么原因造成的?不妨选个参数更高的MOS管看看

  • zeng工,这几天,我有在拿之前剩下的样品直接模拟过流测试和短路测试,都是没有问题的。现有的因为MOS管烧了,连铜皮都坏了,更换不了了。问题点,还需要再找找了。

    而2#电池将Lifetime重新归零后,跑了几天,都是正常的温度,就CELL跑到90度,但是对比另外一个电池也是正常的。我再跑几天试试吧。

    不过还是谢谢你了。感谢!

  • 客户不会刻意用大电流测试,应该是正常使用情况下烧掉的。 既然AFE都测试通过,那么应该是MOS在小电流,高阻抗状态下烧掉的。  如果是一个,就是偶然,硬件问题(过孔没有导通、假焊,连锡),如果批量肯定是程序不对。