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是否有方法可以人为使得FEE模块读写失败?

Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS1224

本人使用的是TMS570LS1224进行设计,用FEE模块进行调试参数(功能码)的存储,代替之前产品中的外部EEPROM。但是,在产品开发中,测试部提出一个问题,“有没有一种方法可以人为让FEE模块读写失败?”,类似于外部EEPROM,短接SDA与SCL可以使得外部EEPROM读写不成功。这样的话,可以测试FEE模块出现读写失败后,故障处理机制是否完善,能否满足产品的安全性要求,因为一旦调试参数读写错误,会影响整个产品的运行。

求指点,谢谢!