输入:40~50V DC ;输出24V/100mA、30V/100mA两种。
典型电路如下图所示,电感选择铁硅铝材质,电阻电容均选择200度以上器件,。频率70kHz~200kHz均调试过。
在200度环境下拷机试验,输出均有不同情况下降,其中24V电源输出下降2V多,30V电源输出下降3~4V,datasheet显示内部基准是随温度升高上升的,高温下请问是什么原因导致此情况?
您好,
关于您的这个问题,我是这样理解的。
这个芯片的温度范围如datasheet里记载的如下:
需要注意的是,这个温度,是芯片内部的节点温度,要比环境温度高。
所以您烤机的环境温度是200度,有可能这个时候节点温度已经超过210度了。
希望我的回答对您有帮助。
感谢您的回复。但是我仍然有个疑问。我将输出电压调低后来进行测试,比如将输出电压降低至至15V/300mA,在200度环境老化测试,工作状态是正常的,没有输出电压明显降低的情况。15V/300mA即Po=4.5W,30/100mA即Po=3W。前者输出功率更大,此时芯片内部节点温度应该更高,电压下降应该更厉害才正常,但是实际表现确实相反的。我想明白这种情况的原因,麻烦您给予解惑。
理论上,您说的对,功率越大,肯定发热更严重。所以从常理来讲,应该是第二种条件更严格。
不知道您的样本数量都多少,仅仅假设,假如5块板子,第一种情况都不行,第二种情况都可以,那就是大概率,可能用温度解释就说不通了。
是不是电路的设计上,对于24V这个电压输出不太行。
要是就1块板子,有没有可能是概率问题,仅仅是我的想法,我们可以一起讨论。